方型低角度導光光源：精準檢測解決方案
方型低角度導光光源的技術優勢與應用
方型低角度導光光源利用方型低角度斜光漫射出的擴散光，解決環型光源無法照射四角邊緣輪廓問題，適用於方型被測物，讓成像能完整呈現外觀瑕疵，此產品應用於IC晶圓、基板零件缺料汙損、焊錫完整性、連接器間距等檢測場合。
方型低角度導光光源的特色：
- 方型低角度斜光漫射出均勻的擴散光。
- 解決環型光源無法照射四角邊緣輪廓問題。
- 加裝漫射板，可轉換成無影低角度斜光漫射光源。
- 適用於方型外觀檢測的被測物。
方型低角度導光光源的應用：
- IC晶圓與基板零件檢測。
- 由側邊與內緣表面檢查被測物是否汙損。
- 晶圓視覺檢測。
- 焊鍚與連接器間距檢測。
