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內同軸點狀光源：精準檢測反光表面的最佳選擇

內同軸點狀光源的特色：

- 採用特殊的光學設計照射出高亮度的點狀光源。
- 搭配同軸遠心鏡頭的光源使用。
- 適用於定位貼合與高反射鏡面且體積小的被測物。
- HLV2-6040系列亮度為HLV系列的5倍以上。

內同軸點狀光源的應用：

- 適用於檢測晶圓、金屬表面、膠捲、液晶與玻璃等容易反光表面。
- 適合安裝於可移動之模組。