封裝測試產業

  • proimages/Industrial_application/C/記憶卡.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: 記憶卡
    檢測內容: 外觀檢測(表面雜點)
    使用光源: GL-LDR10068R-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC銅片框架.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC銅片框架
    檢測內容: 外觀檢測(區別框架有無IC)
    使用光源: GL-FPQ152152W-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC晶片.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC晶片
    檢測內容: 外觀檢測(雷雕文字)
    使用光源: GL-LDR7448W-24
  • proimages/Industrial_application/C/CPU晶片.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: CPU晶片
    檢測內容: 外觀檢測(印刷文字)
    使用光源: GL-IFV40W-24
  • proimages/Industrial_application/C/CUP晶片_2.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: CPU晶片
    檢測內容: 外觀檢測(雷雕文字)
    使用光源: GL-LDR7448W-24
  • proimages/Industrial_application/C/CPU晶片_溢膠.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: CPU晶片
    檢測內容: 外觀檢測(溢膠)
    使用光源: GL-LDR7448W-24
  • proimages/Industrial_application/C/晶圓PAD線.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: 晶圓PAD線
    檢測內容: 外觀檢測(PAD線斷線)
    使用光源: GL-DO12292W-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC晶片包裝盒_-_複製.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC晶片包裝盒
    檢測內容: 外觀檢測(IC數量)
    使用光源: GL-PR136108W-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC導線架.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC導線架
    檢測內容: 外觀檢測(膠體)
    使用光源: GL-DB6020B-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC料帶.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC料帶
    檢測內容: 外觀檢測(破損、破孔)
    使用光源: GL-IFV130W-24
  • proimages/Industrial_application/C/封裝晶線.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC料帶
    檢測內容: 外觀檢測(鑽石顆粒)
    使用光源: GL-FDR12292B-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC_TRAY盤2.png.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC TRAY盤
    檢測內容: 外觀檢測(IC有無、正反面)
    使用光源: GL-PR136108B-24
  • proimages/Industrial_application/C/料帶IC.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC料帶
    檢測內容: 外觀檢測(雷雕文字)
    使用光源: GL-LDR7448R-24
  • proimages/Industrial_application/C/晶片.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC料帶
    檢測內容: 外觀檢測(正反面)
    使用光源: GL-ADM90120B-24
  • proimages/Industrial_application/C/CHIP_IC.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: CHIP IC
    檢測內容: 外觀檢測(雷雕文字)
    使用光源: GL-LDR7448R-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC_TRAY盤.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC TRAY盤
    檢測內容: 外觀檢測(OCR文字)
    使用光源: GL-DB11020R-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC.2.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC
    檢測內容: 外觀檢測(文字.圓點特徵標靶)
    使用光源: GL-LDR4822R-24
  • proimages/Industrial_application/C/晶片2.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: 晶片
    檢測內容: 外觀瑕疵(溢膠)
    使用光源: GL-ADM6060W-24
  • proimages/Industrial_application/C/被動元件.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: 被動元件
    檢測內容: 外觀檢測(料帶OCR)
    使用光源: GL-IFV20R-24
  • proimages/Industrial_application/C/被動元件2.jpg
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC TRAY盤
    檢測內容: 外觀檢測(IC OCR)
    使用光源: GL-DR5028R-24
  • proimages/Industrial_application/C/IC.png
    行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC 
    檢測內容: 外觀檢測(溢膠檢查)
    使用光源: GL-DO12292R-24
  • 行業類別: 封裝測試產業
    產品名稱: IC晶片(錫球)
    檢測內容: 尺寸檢測(球徑、間距測量)
    使用光源: GL-PR9058R-24
可接受客製化產品
同意